-
现行
译：T/SIAA 000012-2025 The method for testing the display performance of a naked-eye 3D screen
适用范围：范围:本文件适用于裸眼3D屏，裸眼3D显示终端可参考使用;
主要技术内容:本文件规定了裸眼3D屏显示性能的检测条件、检测装置和检测方法
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.120电子显示器件
【中国标准分类号(CCS)】 ：暂无
发布单位或类别：(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间： 2025-06-12 | 实施时间： 2025-06-27
-
现行
译：T/QGCML 4895-2025
适用范围：主要技术内容:本文件规定了智能手机外壳防水测试的术语和定义、测试设备要求、测试方法、数据管理及判定标准。本文件适用于智能手机外壳防水测试工作
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.020电子元器件综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：暂无
发布单位或类别：(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间： 2025-06-11 | 实施时间： 2025-06-26
-
现行
译：T/QGCML 4897-2025
适用范围：主要技术内容:本文件规定了教育平板显示器技术规范的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存。本文件适用于教育平板显示器的生产和检验
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.020电子元器件综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：暂无
发布单位或类别：(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间： 2025-06-11 | 实施时间： 2025-06-26
-
现行
译：T/GDCKCJH 115-2025
适用范围：范围:本文件适用于各类光纤激光器噪声特性的相对强度噪声、相位噪声、频率噪声、指向噪声等主要参数的测试;
主要技术内容:本文件规定了光纤激光器噪声特性主要参数测试相关的术语和定义、测试条件及要求、测试方法
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.260光电子学、激光设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：L51激光器件
发布单位或类别：(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间： 2025-06-11 | 实施时间： 2025-06-15
-
现行
译：T/QGCML 4894-2024 Electrical wire harness connector terminal stamping mold design technical requirements
适用范围：主要技术内容:本文件规定了电子线束连接器端子冲压模具设计的技术要求，包括术语和定义、设计原则、结构设计、精度要求、材料选择、表面处理、模具寿命及维护等方面。本文件适用于各类电子线束连接器端子冲压模具的设计、制造、检验和验收，其他类似冲压模具设计可参考使用
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.020电子元器件综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：暂无
发布单位或类别：(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间： 2025-06-10 | 实施时间： 2025-06-25
-
现行
译：T/SICA 008-2025
适用范围：主要技术内容:本文件规定了套刻量测设备验收的技术要求，包括图形测试的结构和原理、设备验收主要参数设备验收等。本文件适用于以硅(Si)和锗(Ge)等为代表的第一代半导体、以砷化镓(GaAs)和磷化铟(InP)等为代表的第二代化合物半导体、以碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)等为代表的第三代半导体
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 ：N38光学设备
发布单位或类别：(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间： 2025-06-03 | 实施时间： 2025-07-03
-
即将实施
译：GB/T 45713.4-2025 Electronics assembly technology—Part 4:Endurance test methods for solder joint of area array type package surface mount devices
适用范围：本文件规定了安装于印制板上的阵列型封装器件焊点的耐久性试验方法，以评估焊点对热机械应力的耐久性。
本文件适用于工业和消费领域的电子、电气设备中安装于印制板上的阵列型封装器件(FBGA、BGA、FLGA和LGA)和无引脚型封装器件(SON、QFN)焊点耐久性的评估和试验，不适用于对半导体器件自身性能的评估和试验。
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.180印制电路和印制电路板
【中国标准分类号(CCS)】 ：L30印制电路
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2025-05-30 | 实施时间： 2025-09-01
-
即将实施
译：GB/T 45720-2025 Semiconductor devices—Time dependent dielectric breakdown(TDDB)test for gate dielectric films
适用范围：本文件描述了半导体器件栅介质层的时间相关介电击穿(TDDB)试验方法以及TDDB失效的产品寿命时间估算方法。
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2025-05-30 | 实施时间： 2025-09-01
-
即将实施
译：GB/T 45723-2025 Test method for printed board—Monitoring of single plated-through hole(PTH)resistance change during temperature cycling
适用范围：本文件描述了温度循环状态下印制板中镀覆孔单孔电阻的测试方法，用于评定由温度循环引起的热机械应力下镀覆孔的耐久性。
本文件适用于印制板、印制板组装件中的镀覆孔。
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.180印制电路和印制电路板
【中国标准分类号(CCS)】 ：L30印制电路
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2025-05-30 | 实施时间： 2025-12-01
-
即将实施
译：GB/T 20871.62-2025 Organic light emitting diode displays—Part 6-2:Test methods—Visual quality and ambient performance
适用范围：本文件规定了有机发光二极管(OLED)显示模块及显示屏的视觉质量和亮室性能的标准测试条件和测试方法。
本文件主要适用于彩色显示模块。
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.120电子显示器件
【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2025-05-30 | 实施时间： 2025-12-01
-
即将实施
译：GB/T 45718-2025 Semiconductor devices—Time-dependent dielectric breakdown(TDDB) test for inter-metal layers
适用范围：本文件描述了半导体器件内部金属层间的时间相关介电击穿(TDDB)的试验方法、测试结构和寿命时间估算方法。
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：L40/49半导体分立器件
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2025-05-30 | 实施时间： 2025-09-01
-
现行
译：GB/T 45660-2025 Electronics assembly technology—Electronic modules
适用范围：本文件规定了业务伙伴间的定义、业务模式、接口，电子模块标准化的相关范围以及一系列通用测试方法等电子模块的通用要求。
本文件适用于电子模块的生产、制造、测试和验收。
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.180印制电路和印制电路板
【中国标准分类号(CCS)】 ：L30印制电路
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2025-05-30 | 实施时间： 2025-07-01
-
即将实施
译：GB/T 45714.54-2025 Printed circuit board materials—Part 5-4:Sectional specification set for conductive foils and films with or without coatings—Conductive pastes
适用范围：本文件规定了导电浆料的性能要求，试验方法，质量保证，包装、运输及贮存等。
本文件适用于印制电路的导线、通孔和薄膜开关及连接端口用导电浆料。
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.180印制电路和印制电路板
【中国标准分类号(CCS)】 ：L30印制电路
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2025-05-30 | 实施时间： 2025-12-01
-
即将实施
译：GB/T 45722-2025 Semiconductor devices—Constant current electromigration test
适用范围：本文件描述了金属互连线、连接通孔链和接触孔链的常规恒流电迁移试验方法。
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：L40/49半导体分立器件
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2025-05-30 | 实施时间： 2025-09-01
-
即将实施
译：GB/T 45719-2025 Semiconductor devices—Hot carrier test on metal-oxide semiconductor(MOS) transistors
适用范围：本文件描述了晶圆级的NMOS和PMOS晶体管热载流子试验方法，该试验旨在确定某个CMOS工艺中的单个晶体管是否满足所需的热载流子注入效应的寿命时间。
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：L40/49半导体分立器件
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2025-05-30 | 实施时间： 2025-09-01
-
即将实施
译：GB/T 45721.1-2025 Semiconductor devices—Stress migration test—Part 1:Copper stress migration test
适用范围：本文件规定了一种恒温老化方法，该方法用于试验微电子晶圆上的铜(Cu)金属化测试结构对应力诱生空洞(SIV)的敏感性。该方法将主要在产品的晶圆级工艺开发过程中进行，其结果将用于寿命预测和失效分析。在某些情况下，该方法能应用于封装级试验。由于试验时间长，此方法不适用于产品批次性交付检查。
双大马士革铜金属化系统通常在蚀刻到介电层的沟槽的底部和侧面具有内衬，例如钽(Ta)或氮化钽(TaN)。因此，对于单个通孔接触下面宽线的结构，通孔下方空洞引起的阻值漂移达到失效判据规定的某一百分比时，将会瞬间导致开路失效。
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：L40/49半导体分立器件
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2025-05-30 | 实施时间： 2025-09-01
-
即将实施
译：GB/T 45716-2025 Semiconductor devices—Bias-temperature instability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors(MOSFETs)
适用范围：本文件描述了金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的偏置温度不稳定性(BTI)试验方法。
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：L40/49半导体分立器件
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2025-05-30 | 实施时间： 2025-09-01
-
即将实施
译：GB/T 18501.8100-2025 Connectors for electrical and electronic equipment—Product requirements—Part 8-100:Power connectors—Detail specification for 2-pole or 3-pole power plus 2-pole signal shielded and sealed connectors with plastic housing for rated current of 20 A
适用范围：本文件规定了电子和电气设备用2芯、3芯20 A功率加2芯信号塑料外壳屏蔽密封连接器(以下简称“电连接器”)的外形尺寸、接口尺寸、技术参数、性能要求和试验方法等。
本文件适用于电子和电气设备领域，额定电压不大于交流750 V或直流1 000 V、额定电流20 A有密封和屏蔽要求的电气连接场合。
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.220电子电信设备用机电元件
【中国标准分类号(CCS)】 ：L23连接器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2025-05-30 | 实施时间： 2025-12-01
-
即将实施
译：GB/T 18501.8101-2025 Connectors for electrical and electronic equipment—Product requirements—Part 8-101:Power connectors—Detail specification for 2-pole or 3-pole power plus 2-pole signal shielded and sealed connectors with plastic housing for rated current of 40 A
适用范围：本文件规定了电子和电气设备用2芯、3芯40 A功率加2芯信号塑料外壳屏蔽密封连接器(以下简称“电连接器”)的外形尺寸、接口尺寸、技术参数、性能要求和试验方法等。
本文件适用于电子和电气设备领域，额定电压不大于交流750 V或直流1 000 V、额定电流40 A有密封和屏蔽要求的电气连接场合。
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.220电子电信设备用机电元件
【中国标准分类号(CCS)】 ：L23连接器
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2025-05-30 | 实施时间： 2025-12-01
-
即将实施
译：GB/T 45729-2025 Test methods for active ion concentration in laser material
适用范围：本文件描述了激光材料中激活离子浓度的测试方法，规定了测试条件、试样制备、测试步骤和数据处理过程，给出了测试报告格式等内容。
本文件适用于激光材料中(0.001~150)×1020 ion/cm3范围内激活离子浓度的测试。激光材料中敏化等其他离子浓度的测试参照执行。
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.260光电子学、激光设备
【中国标准分类号(CCS)】 ：L51激光器件
发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2025-05-30 | 实施时间： 2025-09-01
即将实施
即将实施
即将实施
即将实施
即将实施
现行
即将实施
即将实施
即将实施
即将实施
即将实施
即将实施
即将实施
即将实施