19 试验
65 农业
77 冶金
  • GB/T 42706.8-2026 电子元器件 半导体器件长期贮存 第8部分:无源电子器件 即将实施
    译:GB/T 42706.8-2026 Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 8:Passive electronic devices
    适用范围:本文件适用于长期贮存的无源电子器件,能作为延缓淘汰策略的一部分。长期贮存是指产品预计贮存时间超过12个月的贮存。通常原始供应商将产品贴上包装日期或日期代码后才开始贮存。经销商和客户都有责任在收到标有日期的产品后控制和管理库存,或者建立供应商-客户协议来管理库存。本文件提供了有效进行无源电子器件长期贮存的原则、良好工作实践和一般方法。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.020电子元器件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 38001.63-2026 柔性显示器件 第6-3部分:机械试验方法 撞击和硬度试验 现行
    译:GB/T 38001.63-2026 Flexible display devices—Part 6-3:Mechanical test methods—Impact and hardness tests
    适用范围:本文件描述了柔性显示器件机械可靠性的标准试验方法,特别针对柔性显示器件受到外力作用的撞击和硬度的机械可靠性。 本文件适用于评价基于液晶显示、电子纸和有机发光二极管显示技术在内的柔性显示模块(以下简称“显示模块”)的机械可靠性。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-06-01
  • GB/T 42706.7-2026 电子元器件 半导体器件长期贮存 第7部分:微电子机械器件 即将实施
    译:GB/T 42706.7-2026 Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 7:Micro-electromechanical devices
    适用范围:本文件规定了微电子机械器件(MEMS)长期贮存方法和推荐条件,包括运输、控制以及贮存设施安全。长期贮存是指产品预计贮存时间超过12个月的贮存。本文件也提供了有效进行微电子机械器件长期贮存的原则、良好工作实践和一般方法。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.020电子元器件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 40815.6-2026 电气和电子设备机械结构 符合英制系列和公制系列机柜的热管理 第6部分:户内机柜的空气再循环和旁路 即将实施
    译:GB/T 40815.6-2026 Mechanical structures for electrical and electronic equipment—Thermal management for cabinets in accordance with inch and metric system—Part 6:Air recirculation and bypass of indoor cabinets
    适用范围:本文件涉及符合IEC 60297和IEC 60917系列机柜的热管理,提供了再循环率和旁路率的兼容测量方法,这些测量方法是定义强迫风冷中气流质量的指标,能普遍适用于安装插箱和/或基于机箱设备的户内机柜。 注1: 再循环和旁路都表示泄漏气流,即冷却效率方面的有害现象;其测量显然是为了缓解这种情况。 本文件包含以下内容: a)机柜冷却中再循环和旁路流量的定义; b)再循环率RC的等级; c)机柜中安装的强迫风冷插箱和/或基于机箱设备的再循环率RCs的定义公式; d)整个机柜的再循环率RCr和旁路率BPr的定义公式; e)计算再循环率RCs、RCr和旁路率BPr所需的每个温度测量方法的要求。 注2:本文件包括测量旁路率的规定,但不包括旁路率水平的规定。 所用示意图无意于指导产品设计,仅在界定强迫风冷气流时用于解释性说明。 本文件中涉及的再循环和旁路测量方法假定适用于户内安装的机柜。冷却空气入口位于机柜的前面或底面,被加热的空气排至后面或顶面。这些方法也适用于安装在户外并在前面或背面装有热交换器或空调等冷却装置的机柜(见附录C)。 插箱或机柜的再循环率是为机柜中安装的每个单独插箱或基于机箱的设备或整个机柜定义的。机柜的旁路率是为整个机柜定义的。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.240电子设备用机械构件 【中国标准分类号(CCS)】 :K05电工产品机械结构
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 47158-2026 标称电压1 000 V以上交流系统用自愈式并联电力电容器 现行
    译:GB/T 47158-2026 Shunt power capacitors of the self-healing type for AC systems having a rated voltage above 1 000 V
    适用范围:本文件规定了标称电压1 000 V以上交流系统用自愈式并联电力电容器的使用条件、质量要求、试验分类、绝缘水平、标志、安装和运行导则等要求,描述了相应试验方法。 本文件适用于标称电压1 000 V以上、频率15 Hz~60 Hz的交流电力系统中,专门用来改善功率因数的自愈式电容器单元和自愈式电容器组。 本文件不适用于下列电容器: ——标称电压1 000 V及以下交流系统用自愈式并联电力电容器[见GB/T 12747(所有部分)]; ——标称电压1 000 V及以下交流系统用非自愈式并联电力电容器[见GB/T 17886(所有部分)]; ——标称电压1 000 V以上交流电力系统用非自愈式并联电容器[见GB/T 11024(所有部分)]; ——感应加热装置用电力电容器[见GB/T 3984(所有部分)]; ——串联电容器[见GB/T 6115(所有部分)]; ——交流电动机电容器[见GB/T 3667(所有部分)]; ——耦合电容器及电容分压器[见GB/T 19749(所有部分)]; ——电力电子电容器(见GB/T 17702); ——荧光灯和放电灯用小型交流电容器(GB/T 18489和GB/T 18504); ——抑制无线电干扰用电容器; ——拟用于各种电气设备并作为组件的电容器; ——拟在叠加有交流电压的直流电压下使用的电容器。 各附属器件,诸如绝缘子、开关、互感器、外部熔断器、外部保护器等的要求在相应的文件中给出,但 不包含在本文件的范围内。 本文件的目的是: a) 阐述关于自愈式电容器单元和电容器组性能、定额及自愈式电容器单元试验的统一规则; b) 阐述特殊的安全规则; c) 提供安装和运行导则。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.060.70电力电容器 【中国标准分类号(CCS)】 :K42电力电容器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-06-01
  • GB/T 47239.9-2026 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分:一晶体管一电阻式(1T1R)电阻存储单元性能测试方法 即将实施
    译:GB/T 47239.9-2026 Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 9:Performance testing methods of one transistor and one resistor(1T1R) resistive memory cells
    适用范围:本文件描述了一晶体管一电阻式(1T1R)电阻存储单元的性能测试方法。本文件中的性能测试方法所测试的性能包括读、电预处理、置位、复位、耐久性和保持性。 本文件适用于柔性和刚性电阻存储器件,且不受器件的工艺和尺寸限制。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 249-2026 半导体分立器件型号命名方法 即将实施
    译:GB/T 249-2026 Rule of type designation for discrete semiconductor devices
    适用范围:本文件规定了半导体分立器件型号的命名方法。 本文件适用于各种半导体分立器件的型号命名。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 47240.4-2026 半导体器件 人体通信半导体接口 第4部分:胶囊内窥镜 即将实施
    译:GB/T 47240.4-2026 Semiconductor devices—Semiconductor interface for human body communication—Part 4:Capsule endoscope
    适用范围:本文件规定了使用电流耦合人体通信的胶囊内窥镜半导体接口电气性能的通用要求,包括接口的一般要求和功能要求。本文件涵盖的半导体接口是在人体内的胶囊内窥镜和人体外接收设备中的人体通信调制解调器之间处理或传输电信号的接口。 注: 使用人体通信胶囊内窥镜的其他信息见附录A。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 4937.41-2026 半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分:非易失性存储器可靠性试验方法 即将实施
    译:GB/T 4937.41-2026 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 41:Test method for reliability of non-volatile memory devices
    适用范围:本文件确立了非易失性存储器(以下简称“器件”)根据鉴定规范进行有效的耐久性、数据保持和交叉温度试验的程序。耐久性和数据保持鉴定规范鉴定要求(针对循环计数、保持时间、温度和样本量)参考JESD47或者类似JESD94中的方法。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 47240.1-2026 半导体器件 人体通信半导体接口 第1部分:总则 即将实施
    译:GB/T 47240.1-2026 Semiconductor devices—Semiconductor interface for human body communication—Part 1:General requirements
    适用范围:本文件规定了人体通信(HBC)中使用的半导体接口的通用要求,包括接口的功能要求、极限值,以及工作条件要求。 注:关于HBC人体通信的补充资料见附录A。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 47239.8-2026 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分:柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法 即将实施
    译:GB/T 47239.8-2026 Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 8:Test method for stretchability,flexibility and stability of flexible resistive memory
    适用范围:本文件描述了用于评价柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性的术语和测试方法,包括试验流程和所用设备。本文件还包括环境温度和相对湿度等测试条件的通用要求。本文件中描述的测试方法侧重于评价稳定性,而不是可靠性。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • GB/T 4937.9-2026 半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分:标志耐久性 即将实施
    译:GB/T 4937.9-2026 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 9:Permanence of marking
    适用范围:本文件的目的是确定固态半导体器件上的标志,在涂抹和去除标签、或使用溶剂和清洗液(通常用于去除印刷电路板制造过程中的焊剂残留)后是否仍清晰。 本文件适用于所有封装类型,用于鉴定和/或工艺监控。本试验是非破坏性的,电气或机械损伤能作为本试验的判据。 注1:本试验不适用于激光打标。 许多可用的溶剂或活性不够,或管控严格,或在直接接触或吸入烟雾时对人类有危险。 注2:相较常用的涂料和标志,本试验中使用的溶剂成分被认为是典型和具有代表性的。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-02-27 | 实施时间: 2026-09-01
  • T/DGECA 045-2026 高精度晶圆加工工艺标准及验收规范 现行
    译:T/DGECA 045-2026 Precision Wafer Processing Standard and Acceptance Specification
    适用范围:本文件规定了高精度集成电路晶圆加工的加工前准备、加工工艺、质量检测、成品验收以及包装、运输与存储等内容。 本文件适用于晶圆加工车间的生产作业、质量检验部门的检测验收工作,同时作为公司向上下游合作方提供晶圆产品技术对接、质量确认的依据
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :C39医用电子仪器设备
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2026-02-25 | 实施时间: 2026-02-28
  • JB/T 5836.2-2026 快恢复二极管第2部分:模块 即将实施
    译:JB/T 5836.2-2026 Fast Recovery Diode Part 2: Module
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.10二极管 【中国标准分类号(CCS)】 :K46电力半导体器件、部件
    发布单位或类别:(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间: 2026-02-13 | 实施时间: 2026-09-01
  • JB/T 5834.2-2026 电力半导体模块整流管模块第2部分:单相桥 即将实施
    译:JB/T 5834.2-2026 Electric power semiconductor module rectifier tube module Part 2: Single-phase bridge
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.10二极管 【中国标准分类号(CCS)】 :K46电力半导体器件、部件
    发布单位或类别:(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间: 2026-02-13 | 实施时间: 2026-09-01
  • JB/T 7826.3-2026 电力半导体模块晶闸管模块第3部分:三相桥 即将实施
    译:JB/T 7826.3-2026 Electricity-related semiconductor module thyristor module Part 3: Three-phase bridge
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.20晶体闸流管 【中国标准分类号(CCS)】 :K46电力半导体器件、部件
    发布单位或类别:(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间: 2026-02-13 | 实施时间: 2026-09-01
  • JB/T 11052-2026 电容器用压嵌式绝缘套管技术规范 即将实施
    译:JB/T 11052-2026
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.060.70电力电容器 【中国标准分类号(CCS)】 :K42电力电容器
    发布单位或类别:(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间: 2026-02-13 | 实施时间: 2026-09-01
  • JB/T 6307.2-2026 电力半导体模块测试方法整流管模块第2部分:单相桥 即将实施
    译:JB/T 6307.2-2026 Electricity semiconductor module testing method - Rectifier module Part 2: Single-phase bridge
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.10二极管 【中国标准分类号(CCS)】 :K46电力半导体器件、部件
    发布单位或类别:(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间: 2026-02-13 | 实施时间: 2026-09-01
  • JB/T 7625.3-2026 电力半导体模块测试方法晶闸管模块第3部分:单相桥和三相桥 即将实施
    译:JB/T 7625.3-2026 Electricity semiconductor module testing method - Thyristor module - Part 3: Single-phase bridge and three-phase bridge
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.20晶体闸流管 【中国标准分类号(CCS)】 :K46电力半导体器件、部件
    发布单位或类别:(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间: 2026-02-13 | 实施时间: 2026-09-01
  • JB/T 7826.2-2026 电力半导体模块晶闸管模块第2部分:单相桥 即将实施
    译:JB/T 7826.2-2026 Power semiconductor module thyristor module Part 2: Single-phase bridge
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.20晶体闸流管 【中国标准分类号(CCS)】 :K46电力半导体器件、部件
    发布单位或类别:(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间: 2026-02-13 | 实施时间: 2026-09-01