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现行
译:SJ/T 12026-2025 General method for evaluating computing power performance
【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
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现行
译:SJ/T 12035-2025 Artificial intelligence chips and test indicators and testing methods for edge deep learning chips
【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
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现行
译:SJ/T 12038-2025 Simulation chip design consistency verification method
【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
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现行
译:SJ/T 12039-2025 Method for verifying the consistency of mixed-signal chip design
【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
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现行
译:SJ/T 12040-2025
【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
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现行
译:SJ/T 12037-2025 Artificial intelligence chip Cloud-side training deep learning chip testing indicators and testing methods
【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
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现行
译:SJ/T 12025-2025 General performance evaluation technology requirements for computing power
【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
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现行
译:SJ/T 12036-2025 Artificial intelligence chips Cloud-side inference Deep learning chip testing indicators and testing methods
【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
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现行
译:SJ/T 12034-2025 Artificial intelligence chip Edge-side deep learning chip testing indicators and testing methods
【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
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现行
译:GB/T 46280.3-2025 Specification for chiplet interconnection interface—Part 3:Datalink layer technical requirements
适用范围:本文件规定了芯粒互联接口的数据链路层技术要求,包括:传输报文格式、数据错误检测和纠错机制,以及链路状态和功耗管理相关技术要求。
本文件适用于芯粒互联接口的设计、制造和应用。
【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2025-08-19 | 实施时间: 2026-03-01
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现行
译:GB/T 46280.2-2025 Specification for chiplet interconnection interface—Part 2:Protocol layer technical requirements
适用范围:本文件规定了芯粒互联接口的协议层功能要求,对接总线协议的通用传输要求,并规定了对接AXI总线协议、对接HAI协议、对接自定义协议的传输要求及不同协议之间的配置。
本文件适用于芯粒互联接口的设计、制造和应用。
【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2025-08-19 | 实施时间: 2026-03-01
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现行
译:GB/T 46280.5-2025 Specification for chiplet interconnection interface—Part 5:Physical layer technical requirements based on 2.5D package
适用范围:本文件规定了基于2.5D封装的物理层技术要求,包括初始化及训练流程、物理层电气特性、冗余机制、接口物理布局和低功耗控制相关技术要求。
本文件适用于芯粒互联接口的设计、制造和应用。
【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2025-08-19 | 实施时间: 2026-03-01
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现行
译:GB/T 46280.4-2025 Specification for chiplet interconnection interface—Part 4:Physical layer technical requirements based on 2D package
适用范围:本文件规定了芯粒互联接口的基于2D封装的物理层技术要求,包括初始化及训练流程、物理层电气规范、冗余机制、接口物理布局、低功耗控制相关技术要求。
本文件适用于芯粒互联接口的设计、制造和应用。
【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2025-08-19 | 实施时间: 2026-03-01
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现行
译:GB/T 46280.1-2025 Specification for chiplet interconnection interface—Part 1:General principles
适用范围:本文件界定了芯粒互联接口的术语和定义、缩略语,规定了芯粒互联接口的分层架构以及各层的基本功能,并确立了互联场景和封装类型。
本文件适用于芯粒互联接口的设计、制造和应用。
【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 :L55/59微电路
发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2025-08-19 | 实施时间: 2026-03-01
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现行
译:T/SICA 008-2025 Semiconductor IBO overlay equipment acceptance specification
适用范围:主要技术内容:本文件规定了套刻量测设备验收的技术要求,包括图形测试的结构和原理、设备验收主要参数设备验收等。本文件适用于以硅(Si)和锗(Ge)等为代表的第一代半导体、以砷化镓(GaAs)和磷化铟(InP)等为代表的第二代化合物半导体、以碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)等为代表的第三代半导体
【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 :N38光学设备
发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2025-06-03 | 实施时间: 2025-07-03
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现行
译:T/CS 014-2025 System Packaging Process Specification based on Hybrid Integration
适用范围:范围:本文件规定了基于混合集成的系统封装工艺的通则、设计、分类和工艺过程;
主要技术内容:本文件适用于基于混合集成的系统封装的工艺编制
【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 :暂无
发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2025-05-21 | 实施时间: 2025-06-05
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现行
译:T/GXDSL 027-2025
适用范围:主要技术内容:本标准适用于各类人工智能算力芯片的性能评估,包括但不限于GPU(图形处理单元)、TPU(张量处理单元)、FPGA(现场可编程门阵列)等。无论是用于数据中心的高性能计算芯片,还是用于边缘计算的低功耗芯片,均可参照本标准进行评估
【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 :暂无
发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2025-05-16 | 实施时间: 2025-05-18
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现行
译:T/KSRS 003-2025 Static-resistant and flame-retardant chip tray
适用范围:主要技术内容:本标准规定了防静电阻燃芯片托盘的术语、分类、技术要求、试验方法、检验规则、标识、包装、运输和储存等。本标准适用于防静电阻燃芯片托盘的研发和生产
【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 :暂无
发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2025-05-01 | 实施时间: 2025-05-01
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现行
译:T/UNP 643-2025 High-density heterogeneous integrated chip packaging technology specification
适用范围:主要技术内容:本标准旨在为高密度异构集成芯片封装提供全面的技术指导。本标准详细规定了封装过程中的零部件要求、封装准备、倒装互连、封装成型及质量验收等环节的技术细节与操作规范,确保封装的高效性与可靠性。同时,对标志、标签、包装和档案管理等方面也提出了明确要求,以保障产品的可追溯性和质量控制。本标准的实施将推动芯片封装行业的标准化与高质量发展
【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 :暂无
发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2025-04-30 | 实施时间: 2025-04-30
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现行
译:T/UNP 645-2025 NAND-type Solid-state storage controller technical specification
适用范围:主要技术内容:本标准规定了 NAND 型固态存储主控芯片的技术要求、测试方法、检验规则及标志包装等内容,适用于其设计、生产和检验。技术要求涵盖外观、功能、性能、可靠性、兼容性、电气特性和适应性等方面,如功能上需具备核心处理、接口控制和存储管理能力;性能对读写速度、延迟等有具体指标;可靠性涉及纠错、寿命、掉电保护等。测试方法包括各技术要求对应的试验,检验规则分出厂和型式检验。还对标志、包装、运输和贮存作出规定
【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学
【中国标准分类号(CCS)】 :暂无
发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2025-04-30 | 实施时间: 2025-04-30